A la découverte de la microscopie électronique à balayage et de la spectrométrie EDX

Paris (Paris) • 13 - 15 octobre 2017
A la découverte de la microscopie électronique à balayage et de la spectrométrie EDX

La plate-forme de microscopie électronique à balayage de l'Institut des Matériaux de Paris Centre (IMPC FR 2482) http://www.impc.upmc.fr/fr/plateformes/microscopie/sem_feg.html

ouvre ses portes pour une démonstration sur le microscope électronique à balayage (MEB), à émission de champ (FEGSEM) équipé pour l'analyse élémentaire d'un spectromètre EDX.

Au cours d'une visite d'une heure, le responsable présentera les principes de base du fonctionnement d'un MEB et du spectromètre EDX permettant de faire de l'analyse élémentaire et fera une démonstration pratique des capacités des instruments sur des échantillons d'origine biologique, minérale et des matériaux de la recherche.

Mots-clés :
MEB EDX FEGSEM Microscopie électronique Analyse élémentaire Sorbonne universités microscopie spectrométrie

Autres événements à Paris